20
marzo
2025
LABORATORIOS
MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO (SEM)
La microscopía electrónica de barrido (SEM) es una técnica de observación y análisis en la que obtención de la imagen es producto de la interacción de los electrones emitidos por el equipo y la muestra. A diferencia de la microscopía óptica, que emplea luz visible, la SEM utiliza electrones de alta energía, lo que permite obtener imágenes con una resolución mucho mayor (del orden de nanómetros), se pueden emplear mayores aumentos (desde 10 aumentos hasta 1 000 000 aumentos) y una profundidad de campo mayor (desde 0.4 μm hasta los 4 mm). Se pueden analizar materiales conductores como no conductores (aplicando un recubrimiento conductor).
